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自動粒子解析SEM Phenom ParticleX ウェビナーシリーズ第6弾 材料粉末の品質管理

自動粒子解析SEM Phenom ParticleX ウェビナーシリーズ第6弾 材料粉末の品質管理

※2022年4月13日(水)に行われた卓上型SEMウェビナーの概要紹介です。
 下のリンクからウェビナーの録画を視聴できます。

ウェビナー概要

アディティブマニュファクチャリング(金属積層造形)における材料粉末の粒度と化学組成に関する情報は、造形物の品質に不可欠です。自動粒子解析 SEM Phenom PerticleX AM はその両方を同時に分析することができます。このウェビナーでは、造形物の品質向上、材料粉末のリサイクルプロセス、品質管理への利用方法をご紹介します。

1.粉体の特性評価における典型的な課題とその解決方法
2.SEM + EDS 分析での SOP(標準操作手順)の作成方法
3.分析結果の解釈と生産性向上への活用方法

本ウェビナーは、2021年12月1日に開催されたサーモフィッシャーサイエンティフィック社によるウェビナーの日本語版です。

講演者

鈴木 重雄
ジャスコインタナショナル株式会社
第二事業部 応用技術課

関連製品

卓上走査型電子顕微鏡(卓上SEM)Phenom ParticleX
(サーモフィッシャーサイエンティフィック社製)

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