自動粒子解析SEM Phenom ParticleX ウェビナーシリーズ第４弾 電子機器部品の清浄度検査
※2022年3月30日（水）に行われた卓上型SEMウェビナーの概要紹介です。
下のリンクからウェビナーの録画を視聴できます。
ウェビナー概要
プリント基板 (PCB) は複雑で精緻な部品であり、ハイクラスなクリーンルームで作業しても微小な異物が混入する恐れがあります。製品の品質を維持するためには、異物を特定し、混入の原因を究明しなければなりません。
このウェビナーでは、エレクトロニクスにおける異物分析の自動化手法をご紹介します。
１．電子機器部品の清浄度検査における課題と解決方法
２．SEM + EDS分析での微小粒子の自動測定
３．分析結果の解析方法
本ウェビナーは、2021年11月3日に開催されたサーモフィッシャーサイエンティフィック社によるウェビナーの日本語版です。
講演者
圓山 大貴
ジャスコインタナショナル株式会社
第二事業部 応用技術課
関連製品
卓上走査型電子顕微鏡（卓上SEM）Phenom ParticleX
（サーモフィッシャーサイエンティフィック社製）
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