自動粒子解析SEM Phenom ParticleX ウェビナーシリーズ第３弾 射撃残渣（GSR）分析の効率化
※2022年3月23日（水）に行われた卓上型SEMウェビナーの概要紹介です。
下のリンクからウェビナーの録画を視聴できます。
ウェビナー概要
射撃残渣（GSR）分析の手法は年々変化しており、現在では利便性と性能の良さから卓上SEMでの分析が注目されています。
このウェビナーでは、ソフトウェアのワークフローに焦点を当て、Phenom Perception GSR による ASTM 標準ガイドラインに沿った測定から元素分析、レポート作成まで行う自動分析の方法を説明し、射撃残渣分析の最新技術についてご紹介いたします。
１．卓上SEMによる自動射撃残渣（GSR）分析の方法
２．長時間の射撃残渣（GSR）分析に適した
長寿命・高輝度のCeB6 電子源の重要性
３．射撃残渣（GSR）分析における
Phenom Perception GSR の有効性
本ウェビナーは、2021年11月10日に開催されたサーモフィッシャーサイエンティフィック社によるウェビナーの日本語版です。
講演者
江口 錦ノ介
ジャスコインタナショナル株式会社
第二事業部 大阪サービスセンター
関連製品
卓上走査型電子顕微鏡（卓上SEM）Phenom ParticleX
（サーモフィッシャーサイエンティフィック社製）
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