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Phenom ParticleX TC

ParticleX

Phenom ParticleX TC

アメリカ:
サーモフィッシャーサイエンティフィック社

Technical Cleanliness

特徴

自動車部品の清浄度検査、環境中の異物検査に

Phenom ParticleX TCは、コンタミ、異物、残留物などの微細粒子の測定、解析を全自動で行うシステムです。製造物に付着した異物は、ベアリングの傷、ノズルの閉塞、基板のショートなど故障や欠陥の原因となり、最終製品の性能や品質にも影響します。Phenom ParticleX TCを使用することで、異物粒子のサイズ・形状、組成情報を取得し、異物源の特定や部品の清浄度管理を行うことが可能です。

  • ISO16232 / VDA19に準拠した清浄度検査
  • 環境中の粒子の解析
  • 異物の発生源の調査
対象粒子の例
アルミニウム片
Si粒子
お客様の声:
Phenom ParticleXの導入によるカーエアコン用コンプレッサー製造中に混入する異物の低減

部品の清浄度検査の流れ

自動車部品に付着したコンタミ、異物、残留物の微細粒子を測定します。

環境中の異物検査の流れ

製造現場に浮遊している微細粒子を測定します

ISO16232 / VDA19に準拠したレポート作成

ISO16232/VDA19に準拠したレポートの作成が可能です。また、レポートフォーマットは目的やサンプルに応じて自由自在にカスタマイズ可能です。

レポートフォーマットの作成
レポート例
ISO16232/VDA19に準拠した清浄度評価

アプリケーション

自動車部品の清浄度検査 ISO16232/VDA19に準拠した清浄度解析

アプリケーションノート

ウェビナー情報

カタログ

【リーフレット】
卓上自動粒子解析SEM/EDS Phenom ParticleX
Desktop SEM アメリカ サーモフィッシャーサイエンティフィック社製
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【リーフレット】
卓上走査型電子顕微鏡 Phenom Pharos
Desktop SEM アメリカ サーモフィッシャーサイエンティフィック社製
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【リーフレット】
卓上走査型電子顕微鏡 Phenom ProX
Desktop SEM アメリカ サーモフィッシャーサイエンティフィック社製
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【リーフレット】
卓上走査型電子顕微鏡 Phenom XL
Desktop SEM アメリカ サーモフィッシャーサイエンティフィック社製
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