Phenom Pharos
アメリカ:サーモフィッシャーサイエンティフィック社
FE電子銃搭載、卓上SEM最高峰モデル
もっと見たい。
画質へのこだわりから誕生した世界初卓上FE-SEM。
限られた環境で、スピードと高分解能が
必要とされるアプリケーションに。
特徴
FE電子銃で、ナノの世界へ
FE電子銃でさらに美しく
30秒で、分解能 < 2 nm
フロアモデルに迫る高分解能を、卓上SEMで実現しました。
試料導入からSEM像表示まで、僅か30秒。高画質観察を圧倒的スピード、簡単操作で実現します。
ナノ~サブミクロンレベルの解析を実現
観察だけでなく、”観察+α” で一歩先の解析まで行うことが可能です。
微細粒子や繊維の解析が迅速に行えます。
パーティクルメトリックによる金粒子の解析例
ファイバーメトリックによる銀ナノロッドの解析例
世界初 卓上FE-SEMによる走査透過電子顕微鏡観察(STEMホルダ)
電界放出型電子銃(FEG)を搭載した Phenom Pharos卓上FE-SEM専用の
STEMホルダで、世界初の卓上による走査透過電子顕微鏡観察を可能にしま
す。
低電圧で高コントラストを実現し、微細構造や形態の高分解能観察が可能で
す。 様々な材料に対応し、広範囲を低倍率から高倍率に変えて観察を行うこと
ができるため、サンプルのスクリーニングや結果の取得を迅速に行うことが可
能です。
革新的なユーザーインターフェースで、もっと速く、もっとスマートに
ユーザーインターフェースが新しく生まれ変わりました。
試料導入から僅か30秒でSEM像を表示、そのままバリアフリーで分析へ。
ナビゲーションシステムで 「迷わない」
観察位置を常に確認でき、迷いません。
自動ステージで 「瞬時に移動」
画面をワンクリックするだけで次の観察位置へ移動できます。
リビジット機能で 「すぐ戻れる」
気になる場所を登録、戻って再観察、再分析が可能です。
測定の流れ
観察からそのままEDS元素分析へ
CeB6だから、高感度分析が可能です。
LiveEDS “探しモノ”が必ず見つかる
観察時に、ワンクリックで気になった箇所のEDSスペクトルと検出元素を表示します。
点分析だからこそ、エリア全体のスペクトルでは埋もれてしまう微量成分も見逃しません。
“探しモノ”を瞬時に見つけ出すことができます。
点分析、ライン分析、マッピング
自動で定性・定量分析
スペクトルから自動でピークを検出し、定性分析、定量分析を行うことができます。ピークが重なる元素も自動で分離します。
直感操作でレポート作成まで
分析の経験に関係なく、解析からレポート作成までを簡単に行うことができます。
加速電圧20 kVに対応
15 kVに加えて、より高加速電圧が必要な分析にも対応します。
右のスペクトルは、鉛(Pb)を15 kVと20 kVで分析した例です。
結果の酸化物換算表示
検出された元素を酸化物に換算して表示することができます。
スペクトルの重ね合わせ・差スペクトルの表示
検出された元素を酸化物に換算して表示することができます。
観察+α、解析ソフトウェア
数値で評価したい!を叶えます。CeB6だから、サブミクロンレベルの粒子や繊維の解析が可能です。
- 粒子解析
- 細孔解析
- 繊維径、隙間面積
- 3D画像の構築、粗さ計測
- 自動画像マッピング
仕様
Phenom Pharos | ||
電子銃 | ショットキー型FE電子銃 | |
分解能 | 反射電子 | 3 nm(加速電圧:20 kV) |
二次電子(オプション) | 2 nm(加速電圧:20 kV)、10 nm(加速電圧:3 kV) | |
光学ナビゲーション倍率 | 27 ~ 160 倍(カラー) | |
電子顕微鏡倍率 | 最大 2,000,000 倍 | |
デジタルズーム | 12 倍 | |
加速電圧 | 5 kV、10 kV、15 kV(アドバンスモード:1 kV ~ 20 kV) | |
反射電子検出器 | 標準 | |
二次電子検出器 | オプション | |
EDS元素分析 | オプション | |
画像保存形式 | JPEG、 TIFF、 PNG | |
自動ステージ | コンピュータ制御モーター駆動 XY ステージ | |
試料サイズ | 直径 : 25 mm (オプション : 32 mm)、 高さ : 35 mm (オプション : 100 mm) | |
寸法、重量 | 顕微鏡本体 | 360(W) × 580(D) × 590(H)mm、 75 kg |
真空ポンプ | 145(W) × 220(D) × 213(H)mm、 4.5 kg | |
電源ボックス | 230(W) × 255(D) × 75(H)mm、 4.3 kg、 (UPS使用 寸法:530(W) × 210(D) × 500(H)mm、 25.2 kg) | |
PC | 92.5(W) × 305.6(D) × 343.5(H)mm、 8 kg | |
モニタ | 531.5(W) × 250(D) × 515.4(H)mm、 6.7 kg | |
電源 | 単相 AC 100 V、 50 / 60 Hz、 最大 378 W | |
解析 ソフト ウェア | 標準 | 自動画像マッピング |
オプション | パーティクルメトリックソフトウェア(粒子解析、細孔解析)、 ファイバーメトリックソフトウェア(繊維解析)、 3Dラフネスソフトウェア(3D画像の構築、粗さ計測) |
観察例
アプリケーションノート
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自動SEMイメージングと粒子サイズ・形状分析による電池正極材料の品質管理の迅速化
APPLICATION NOTE
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アルミ合金中の金属間化合物粒子の自動分析
APPLICATION NOTE
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自動化プロセス:リン酸塩コーティングの品質管理
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射撃残渣(GSR)分析の効率化 国際規格ASTM E1588に準拠したGSR分析
Application(webページ)
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粒子材料の特性評価 アディティブマニュファクチャリングで使用される金属粉末の品質管理
Application(webページ)
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リチウムイオン電池材料の品質管理 NCM粉末の異物解析および均質性評価
Application(webページ)
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チタン-マグネシウム複合処理鋼の介在物分析
APPLICATION NOTE
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リチウムイオン電池の研究・開発におけるPhenom XL アルゴン対応卓上SEMの有効性
APPLICATION NOTE
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鋼材の自動介在物解析・清浄度解析
Application(webページ)
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自動車部品の清浄度検査
Application(webページ)
ウェビナー情報
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自動粒子解析SEM Phenom ParticleX ウェビナーシリーズ第5弾 鉄鋼の自動介在物評価
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自動粒子解析SEM Phenom ParticleX ウェビナーシリーズ第2弾 リチウムイオン電池材料の品質管理
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最適なサンプル準備方法、解析、レポート出力の特徴と流れを説明します。